대학보유기술

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보유기술정보
출원번호 / 일자 1020210016137 (2021-02-04)
등록번호 / 일자 1024344190000 (2022-08-16)
발명자 중앙대학교 산학협력단
기술명 다점 마커 및 스테레오 비전을 이용한 정밀 3D 스캔 장치 및 방법
요약 본 발명은 다점 마커 및 스테레오 비전을 이용한 정밀 3D 스캔 장치 및 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 대형 공작물의 정보를 추출하기 위해서, 대형 공작물을 다점(multi-points)의 인공 마커가 부착된 스테레오 비전 카메라로 측량하고, 촬영된 이미지에서 데이터를 추출하여 3D 좌표계를 생성하기 위한 다점 마커 및 스테레오 비전을 이용한 정밀 3D 스캔 장치 및 방법에 관한 것으로, N개의 다점(multi-point)을 가진 인공 마커가 부착된 대형의 공작기기를 스테레오 비전 카메라들을 통해서 촬영하는 스테레오촬영부;와 상기 스테레오촬영부로부터 촬영된 상기 대형 공작기기 촬영 2D 이미지에서 M개의 상기 마커의 위치를 탐색하고 2D좌표로 나타내는 마커인식부;와 상기 마커인식부로부터 탐색된 상기 M개 마커의 마커 포인트(marker points)들의 인식 위치를 3D(3-Dimension)으로 변환하는 3D매칭부; 및 상기 3D매칭부에서 도출된 상기 3D 마커 포인트들의 위치를 3D좌표계로 나타내는 3D좌표계표현부;를 포함한다.

서울캠퍼스  :  06974 서울특별시 동작구 흑석로 84

다빈치캠퍼스  : 17546 경기도 안성시 대덕면 서동대로 4726

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