보유기술정보 | |
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출원번호 / 일자 | 1020180155491 (2018-12-05) |
등록번호 / 일자 | 1020939290000 (2020-03-20) |
발명자 | 중앙대학교 산학협력단 |
기술명 | CIM 기반의 시스템 건전성 진단을 위한 장치 및 방법 |
요약 | 본 발명은 CIM(Critical Information Map)을 이용하여 TFRs(Time Frequency Representations)에서 고장에 영향을 주는 신호가 포함된 영역을 찾아낼 수 있도록 한 CIM 기반의 시스템 건전성 진단을 위한 장치 및 방법에 관한 것으로, 비정상 움직임(Non-stationary Movement)을 대표하는 해당 주파수의 신호만을 밴드 패스 필터로 추출하고, 두 종류의 시계열 신호의 일치 정도를 파악하는 방법으로 교차 상관 분석(Cross Correlation)을 이용하는 데이터 동기화부;CIM(Critical Information Map) 표현을 위한 TFRs(Time Frequency Representations) 방법으로 WPD(Wavelet Packet Decomposition)를 사용하고, 신호를 스펙트럼화 하여 차감한 후에 역 변환하는 스펙트럼 차감법(Spectral Subtraction)을 이용하는 차감 스펙트로그램부;CIM(Critical Information Map)을 만들기 위해서 차감 스펙트로그램(Subtracted Spectrogram)에서 중요 영역의 위치와 각 영역의 크기를 결정하는 파라미터들을 결정하는 맵값 최적화부;를 포함하는 것이다. |
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