대학보유기술

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보유기술정보
출원번호 / 일자	1020100114653 (2010-11-17)
등록번호 / 일자	1012926490000 (2013-07-29)
발명자	중앙대학교 산학협력단
기술명	납 이온 검출용 나노입자 및 이를 이용한 납 이온 검출 방법

요약

본 발명은 납 이온 검출용 나노입자, 이의 제조 방법 및 이를 이용한 납 이온의 검출 방법에 관한 것이다. 본 발명의 납 이온 검출용 나노입자는 납 이온에 대해 높은 선택성을 가지고 있어, 다른 금속 이온의 존재 시에도 납 이온에 대해서만 선택적으로 검출할 수 있고, 납 이온에 대해 높은 민감성을 가지고 있어, 매우 작은 양의 납 이온도 검출할 수 있다. 또한, 본 발명의 납 이온 검출 방법은 별도의 염을 추가하는 공정이 필요하지 않으며, 반응 온도 및 반응 매체의 속성 등 검출 조건에 대한 제약이 없어, 시료에 납 이온이 존재하는지 여부를 육안으로 간단하게 확인할 수 있다.

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