대학보유기술

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보유기술정보
출원번호 / 일자	1020100058424 (2010-06-21)
등록번호 / 일자	1011223410000 (2012-02-23)
발명자	중앙대학교 산학협력단
기술명	다중 스케일 적분 기반의 불변량을 이용한 모양 분석 장치 및 방법

요약

본 발명은 적분 기반의 다중 스케일 커널을 이용하여 모양을 분석하는 방법 및 그 장치에 관한 것이다. 다중 스케일 적분 기반의 불변량을 이용한 모양 분석 장치는 특정 모양에 대해 다중 스케일 커널을 사용하여 상기 특정 모양의 국부적(local) 지오메트릭(geometric) 특징을 추정하고, 상기 특정 모양에 대한 모양 특징(feature)을 추정하는 모양 특징 추정부, 상기 추정된 모양 특징을 상기 특정 모양을 포함하는 영역(domain of shape)에서 적분 기반에 기초하여 모양 시그네이쳐(signature)를 형성하는 모양 시그네이쳐 형성부 및 상기 형성된 모양 시그네이쳐를 통하여 상기 특정 모양을 분석하는 모양 분석부를 포함하고, 상기 모양 특징 추정부는 등방성 커널을 상기 다중 스케일 커널로 사용할 수 있다.

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